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thicknessGAUGE

Sistema di sensori per la misurazione precisa dello spessore

thicknessGAUGE C.C

I sistemi di sensori thicknessGAUGE C.C sfruttano sensori di spostamento cromatico confocali per la misurazione dello spessore. Questi sensori consentono la misurazione con una precisione altissima e una velocità di misura elevata. L’innovativo metodo di misurazione consente di misurare anche le superfici riflettenti e lucide.

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Caratteristiche particolari

  1. Sensori utilizzati: Sensori di spostamento cromatico confocali
  2. Campo di misura dello spessore: 2,5 mm
  3. Precisione: ±0,4 µm
  4. Velocità di misura: fino a 10 kHz
  5. Perfetto per la misurazione ad alta risoluzione di superfici riflettenti e lucide
  6. Anche per pellicole trasparenti e semitrasparenti
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MICRO-EPSILON Ufficio Italia
(+39) 0376 387100
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Sistema di misurazione dello spessore del disegno tecnico

I sistemi di sensori thicknessGAUGE C.C sono utilizzati per una misurazione precisa dello spessore di nastri e lastre. Il sistema può essere utilizzato per la misurazione di una traccia fissa, ad esempio per la misurazione della linea centrale (spessore centrale), o per la misurazione dello spessore sul bordo. Grazie all’unità lineare, thicknessGAUGE può essere utilizzato anche per la misurazione dello spessore trasversale fino a una larghezza del nastro di 600 mm.

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