thicknessGAUGE C.LP
I sistemi di sensori thicknessGAUGE C.LP sfruttano scanner di profili con laser per la misurazione dello spessore. Gli scanner proiettano una linea laser sulla superficie. Grazie alla linea laser è possibile compensare le inclinazioni del nastro ed eseguire una media dei profili. Il metodo di misurazione a linee laser consente anche la misurazione dello spessore di materiali strutturati, come superfici goffrate o lamiere forate.
- Sensori utilizzati: Sensori di profilo Blue-Laser
- Campo di misura dello spessore: 8 mm
- Precisione: ±0,75 µm
- Velocità di misura: fino a 100 Hz
- Adatto per materiale strutturato come lamiera forata o lastre goffrate
- Linea best-fit possibile
- Compensazione delle inclinazioni del nastro
I sistemi di sensori thicknessGAUGE C.LP sono utilizzati per una misurazione precisa dello spessore di nastri e lastre. Il sistema può essere utilizzato per la misurazione di una traccia fissa, ad esempio per la misurazione della linea centrale (spessore centrale), o per la misurazione dello spessore sul bordo. Grazie all’unità lineare, thicknessGAUGE può essere utilizzato anche per la misurazione dello spessore trasversale fino a una larghezza del nastro di 400 mm.
