thicknessGAUGE C.LP

Sistema di sensori per la misurazione precisa dello spessore
thicknessGAUGE
Sistema di sensori per la misurazione precisa dello spessore

I sistemi di sensori thicknessGAUGE C.LP sfruttano scanner di profili con laser per la misurazione dello spessore. Gli scanner proiettano una linea laser sulla superficie. Grazie alla linea laser è possibile compensare le inclinazioni del nastro ed eseguire una media dei profili. Il metodo di misurazione a linee laser consente anche la misurazione dello spessore di materiali strutturati, come superfici goffrate o lamiere forate.

Caratteristiche
  • Sensori utilizzati: Sensori di profilo Blue-Laser
  • Campo di misura dello spessore: 8 mm
  • Precisione: ±0,75 µm
  • Velocità di misura: fino a 100 Hz
  • Adatto per materiale strutturato come lamiera forata o lastre goffrate
  • Linea best-fit possibile
  • Compensazione delle inclinazioni del nastro

I sistemi di sensori thicknessGAUGE C.LP sono utilizzati per una misurazione precisa dello spessore di nastri e lastre. Il sistema può essere utilizzato per la misurazione di una traccia fissa, ad esempio per la misurazione della linea centrale (spessore centrale), o per la misurazione dello spessore sul bordo. Grazie all’unità lineare, thicknessGAUGE può essere utilizzato anche per la misurazione dello spessore trasversale fino a una larghezza del nastro di 400 mm.

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