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thicknessGAUGE

Sistema di sensori per la misurazione precisa dello spessore

thicknessGAUGE C.LP

I sistemi di sensori thicknessGAUGE C.LP sfruttano scanner di profili con laser per la misurazione dello spessore. Gli scanner proiettano una linea laser sulla superficie. Grazie alla linea laser è possibile compensare le inclinazioni del nastro ed eseguire una media dei profili. Il metodo di misurazione a linee laser consente anche la misurazione dello spessore di materiali strutturati, come superfici goffrate o lamiere forate.

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Caratteristiche

  1. Sensori utilizzati: Sensori di profilo Blue-Laser
  2. Campo di misura dello spessore: 15 mm
  3. Precisione: ±1,2 µm
  4. Velocità di misura: fino a 100 Hz
  5. Adatto per materiale strutturato come lamiera forata o lastre goffrate
  6. Linea best-fit possibile
  7. Compensazione delle inclinazioni del nastro
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MICRO-EPSILON Ufficio Italia
(+39) 0376 387100
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Technische Zeichnung Dickenmesssystem

I sistemi di sensori thicknessGAUGE C.LP sono utilizzati per una misurazione precisa dello spessore di nastri e lastre. Il sistema può essere utilizzato per la misurazione di una traccia fissa, ad esempio per la misurazione della linea centrale (spessore centrale), o per la misurazione dello spessore sul bordo. Grazie all’unità lineare, thicknessGAUGE può essere utilizzato anche per la misurazione dello spessore trasversale fino a una larghezza del nastro di 600 mm.

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